Electro-Thermal Simulation Studies of SiC Junction Diodes Containing Screw Dislocations Under High Reverse-Bias Operation
2018-09-15 (土) - 発売中
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Electro-Thermal Simulation Studies of SiC Junction Diodes Containing Screw Dislocations Under High Reverse-Bias OperationNational Aeronautics and Space Administration NASA Amazon.co.jp 価格 ￥3,008. 在庫あり 2025年12月18日 18時15分 JST時点 - 詳細はこちら Amazonで購入する 他のショップで探す |
- 新刊発見日: 2018年09月22日
- Independently published
- ASIN: 1723722472
- EAN: 9781723722479
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