Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
2013-11-13 (水) - 発売中
|
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)Sandeep K. Goel / Krishnendu Chakrabarty Amazon.co.jp 価格 ￥17,422. - 2026年07月06日 13時23分 JST時点 - 詳細はこちら Amazonで購入する 他のショップで探す |
- 新刊発見日: 2015年06月01日
- CRC Press
- ASIN: 1439829411
- EAN: 9781439829417
- ハードカバー
- 他のフォーマット
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Kindle版
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
ペーパーバック
Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
Kindle版
- 新刊チェックキーワード
nanoscale
1