Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory Workbook
2013-11-22 (金) - 発売中
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Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy: A Laboratory WorkbookCharles E. Lyman / Dale E. Newbury / Joseph Goldstein / David B. Williams / Alton D. Romig Jr. / John Armstrong / Patrick Echlin / Charles Fiori / David C. Joy / Eric Lifshin / Klaus-Ruediger Peters Amazon.co.jp 価格 ￥13,323. 在庫あり 2025年12月31日 20時08分 JST時点 - 詳細はこちら Amazonで購入する 他のショップで探す |
- 新刊発見日: 2011年09月24日
- Springer
- ASIN: 0306435918
- EAN: 9780306435911
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