Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)
2017-12-19 (火) - 発売中
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Testing for Small-Delay Defects in Nanoscale CMOS Integrated Circuits (Devices, Circuits, and Systems)Sandeep K. Goel / Krishnendu Chakrabarty Amazonで購入する 他のショップで探す |
- 新刊発見日: 2017年12月29日
- CRC Press
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