Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)
2016-08-16 (火) - 発売中
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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light (Mechanical Engineering and Solid Mechanics: Reliability of Multiphysical Systems)Pierre Richard Dahoo / Philippe Pougnet / Abdelkhalak El Hami Amazonで購入する 他のショップで探す |
- 新刊発見日: 2017年02月07日
- Wiley-ISTE
- ASIN: B01KMDJCXK
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